Home > Term: סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (סאם)
מבוסס על קרן אלקטרונים מיקרוסקופ המשמש כדי לבדוק, בתמונה שלושה מסך תלת-מימדיים, מבנה פני השטח ולכן מוכן.
- Del af tale: noun
- Branche/domæne: Biotechnology
- Category: Genetic engineering
- Organization: FAO
0
Ophavsmand
- Sarah Cohen
-
(V.I.P) 33583 points - 100% positive feedback
(Haifa, Israel)
